詳細介紹
1. 產品概述:
玉米育種研究中,玉米表型參數和玉米產量、品質、抗逆性等密切相關,進而獲取這些參數也顯得尤為重要,因此我們推出了玉米表型檢測系統。此玉米表型系統不僅可以測量凸包面積、外接矩形面積、長寬比、側視角緊湊度、側視角投影面積、株高、莖稈節間距和莖粗、葉長、葉片彎曲度、莖葉夾角和千粒重等指標,這些高通量表型參數為玉米品種篩選、產量預測、基因定位、功能解析等方面發揮著至關重要的作用。
2. 功能特點
1) 原位非破壞性測量:可實現植株非破壞性的測量,便于對玉米各生育時期進行動態研究。
2) 高通量快速測量:可高通量快速測量玉米植株株型和產量性狀數據,助力科研效率提升。
3) 數據互聯互通:輕量級移動端進行數據采集,數據時采時分析。各模塊數據高效實時互聯互通,提高數據的高度融合性。
4) 品種名稱批量添加:可批量添加品種名稱,解決用戶材料多,單個輸入較為繁瑣的問題。
5) 比例尺自動矯正:任意手機可拍照,且拍攝成像視角可以被自動矯正,避免了拍照變形誤差。
6) 數據查看:數據查看多樣化,拍照分析后即可查看結果,也可在歷史記錄中查看數據報表。
7) 數據導出:支持數據修正、查詢、編輯和導出,數據可導出Excel格式,并可分享至微信、QQ或者釘釘,便于多應用方式查看數據。
3、玉米表型檢測系統適用范圍:
玉米表型測量系統廣泛適用于各農科院、高校、育種公司、種子站的玉米研究
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